专利
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一种离子径迹蚀刻长度批量测量方法及系统发明人： 李伟星类别： 发明专利申请日期： 2023
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基于独居石裂变径迹的测年方法发明人： 岳雅慧,李伟星类别： 发明专利申请日期： 2023
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基于压力基线校正方法的碳酸盐团簇同位素质谱测试方法发明人： 谢静,丁林类别： 发明专利申请日期： 2023
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一种基于自相关噪音成像的地球内部结构探测方法发明人： 张衡类别： 发明专利申请日期： 2023
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独居石裂变径迹的常温蚀刻方法及用途发明人： 岳雅慧类别： 发明专利申请日期： 2023
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一种板块俯冲热结构参数的数值模拟分析方法发明人： 季颖锋类别： 发明专利申请日期： 2023