制造商及型号:日本电子公司 JEM-F200 | ||
仪器分类:光学仪器 | ||
放置地点:北京部 | ||
联系人:牛菁菁 | ||
联系电话:15201464125 | ||
邮箱:jniu@itpcas.ac.cn | ||
主要特点: 本设备具有透射电镜(TEM),扫描透射电镜 (HAADF-STEM) , 以及微区元素分析(EDX)三种工作模式。例如通过观察矿物单晶的形态以及其与其他矿物的接触关系可确定粘土矿物碎屑成因或成岩成因,通过对粘土矿物的晶格像和衍射花样的分析可提取粘土矿多型方面的信息。通过联合使用高分辨透射电镜像(HRTEM)和相应的快速傅立叶变换(FFT)谱,可以方便地在原子层次上分析微观结构形貌及相应的晶体结构。本装置已经配备一些透射电镜附件或连接外部设备,如原位芯片加热杆,超薄切片机,可以极大拓展其功能,可实现原位加热,超薄透射电镜样品制备。扫描透射电镜,超薄切片以及原位加热实验需要另行收费。 |
||
服务 |
||
服务项目 | 外部收费标准 | 内部收费标准 |
TEM微观结构分析 | 800元/小时 | 600元/小时 |
附件: