| 制造商及型号：日本电子JEOL JEOL JXA-8230 |
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| 仪器分类：电子光学仪器 | ||
| 放置地点：北京部 | ||
| 联系人：谢静 | ||
| 联系电话：010-84249314 | ||
| 邮箱： xiejing@itpcas.ac.cn | ||
| 主要特点： 可用于固体样品的表面形貌、结构观察和原位微区成分分析。 应用：(1)金红石中微量元素Zr含量测定；(2)石英中微量元素Al、Ti含量测定；(3)酸盐矿物主量元素含量测定 |
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| 主要技术指标： (1)二次电子图像分辨率：6nm； (2)束流稳定度：测得±0.05%/h； (3)电子束直径检测：0.5μmΦ； (4)最大探针电流实测为10μA； (5)放大倍率误差：±10%以内 |
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| 服务 |
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| 服务项目 | 外部收费标准 | 内部收费标准 |
| 常规造岩矿物中主量元素含量分析 | 500元/小时 | 300元/小时 |
| 金属硫化物中主要元素含量分析 | ||
| 二次电子图像观察（SEI） | ||
| 造岩矿物主要元素面扫描 | ||
| 背散射图像观察（BSE） | ||
| 电子探针能谱分析 | ||
附件：